OSPrey800仪器利用光谱分析原理检测OSP镀层厚度。无需准备样品,可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。 OSPrey800仪器在检测过程中不会对PCB/PWB板产生不利影响。通过进行PCB/PWB上OSP镀层厚度的定量、... ...
便携式、测量各种金属镀层 高、稳定性好, 测量可与X射线测厚仪 可测量各种微型部件(φ2.5mm) 232接口,可连接打印机或电脑 应用 CMI243金属镀层测厚仪可、... ...
牛津仪器测厚仪器CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来对表面铜和穿... ...
应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。 行业 用于电子元器件,半导... ...
X-Strata 960 X荧光射线测厚仪,适用用于电子元器件、半导体、PCB、汽车部件、功能性电镀、装饰件、连接器多个行业,可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管(其他测厚仪为50瓦),... ...